X Ray Fluorescência Espectrômetro (XRF)

O espectrômetro de fluorescência de raios X (XRF) é um método rápido e não destrutivo de medição de materiais, amplamente utilizado em análises elementares e análises químicas, especialmente na investigação e pesquisa de metal e vidro.

Um XRF típico consiste em um tubo de raios-X e um sistema de detecção. O tubo de raios-X produz um único raio-X que excita a amostra em teste. Cada elemento em uma amostra excitada emite raios-X secundários, e os raios-X secundários emitidos por diferentes elementos têm propriedades energéticas específicas ou propriedades de comprimento de onda. Usando o princípio da fluorescência de raios-X, é teoricamente possível medir todos os elementos da tabela periódica dos elementos.